Los objetivos de la Jornada de Análisis de vestigios forenses con la técnica instrumental de Difracción de Rayos X, se fundamentan en la necesidad de dar a conocer las posibilidades analíticas de la técnica en el campo forense. Dominar las posibilidades de la instrumentación redunda en el conocimiento de que tipo de vestigios son apropiados para su análisis y qué tipo de vestigios no aportan nada al proceso investigativo, al menos con esta técnica. Ante la pregunta sobre cuál es la efectividad de la resolución de hechos delictivos mediante el análisis de vestigios en los laboratorios forenses es necesario resaltar la capacitación de los intervinientes, el escrupuloso cumplimiento de la cadena de custodia en la recogida, envío y tratamiento de los vestigios, pero sobre todo se debería contar con la instrumentación adecuada y suficiente para el análisis de muestras de diferentes procedencias y distinta naturaleza.

            Para culminar la labor policial basada en la analítica de vestigios con el doble fin de auxiliar a la investigación policial y la emisión de Informes Periciales o Técnico-Policiales que luego han de ser corroborados y/o defendidos ante la Autoridad Judicial en el acto del juicio oral; en los laboratorios se dispone de diversas técnicas instrumentales entre las que destacan las técnicas cromatográficas (entre ellas Cromatografía de Gases acoplada a Espectrometría de Masas, Cromatografía de Líquidos de Ultra Alta Resolución acoplada a Espectrometría de Masas de Alta Resolución, Cromatografía Iónica, etc), Espectrometría Infrarroja por Transformada de Fourier, Microscopía Electrónica de Barrido y Microanálisis EDX, Fluorescencia de Rayos X por Dispersión de Energías, Difracción de Rayos X, etc.

            Es cierto que la mayoría de ellas se utilizan para la identificación y el análisis de vestigios de un campo forenses determinado. Sin embargo, existen técnicas instrumentales con amplio espectro de sustancias identificables. Estas son de gran importancia para el trabajo diario de un laboratorio ya que complementan y apoyan las analíticas realizadas por las técnicas específicas para un determinado tipo de vestigio. Entre ellas tendríamos la Difracción de Rayos X, y es por ello, por lo que el propósito de esta Jornada sea mostrar a los asistentes metodología de trabajo, posibilidades y también problemas analíticos, basados en la experiencia durante más de quince años de trabajo con la técnica en el Laboratorio forense de la Comisaría General de Policía Científica.

El Comité organizador